Analyse Et Caractérisation Des Surfaces Et Interfaces Des Matériaux Diélectriques, Métalliques Et Semiconducteurs

الموضوعات

علوم تطبيقية وتكنولوجية

الملخص

La présente thèse a pour objectif l'analyse et la caractérisation de la rugosité dessurfaces et interfaces de trois classes de matériaux: le verre optique, l'acier, le siliciumet aussi les couches minces sur substrats.Il s'agit donc d'utiliser des méthodes de caractérisation de la rugosité et exploiter lespropriétés optiques en relation avec l'état de surface.Comme la connaissance de l'état de surface d'un élément ou d'un composant optiqueou optoélectronique est indispensable pour atteindre la fonctionnalité voulue, les étatsde surfaces continuent toujours d'être considérés comme un domaine de rechercheappliquée très important. Pour atteindre cet objectif on a réservé une partie à l'étudethéorique du phénomène et les aspects mathématiques décrivant les paramètres desurface et l'interaction lumière matière.Quant aux techniques utilisées, on a appliqué les techniques de diffusion de lalumière, l'ellipsométrie, l'interférométrie à décalage de phase et la microscopie àcontraste interférentiel. Ce spectre de technique est très complémentaire et reflète lecaractère expérimental de cette thèse

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التعريف والنوع

رقم الوثيقة

0fa9ddc9-bb36-48e4-a407-7be56996781e

رقم العقد

0

نوع الوسائط

Crawler

نوع المحتوى

الرسائل العلمية

صيغة المصدر

رسائل دكتوراة

نوع الملف

pdf text

أسماء الملفات

324336_1.pdf

بيانات النشر

ألقاب المؤلفين

[{"name_ar":"جميل بو زيد","title_ar":"اشراف","title_en":"Supervision"},{"name_ar":"محمد بو عافية","title_ar":"اشراف","title_en":"Supervision"},{"name_ar":"منةالله عيسى","title_ar":"اعداد","title_en":"Preparation"}]

اللغة

French

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اسم المصدر

Analyse Et Caractérisation Des Surfaces Et Interfaces Des Matériaux Diélectriques, Métalliques Et Semiconducteurs

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الإشراف

جميل بو زيد, محمد بو عافية

الإعداد

منةالله عيسى

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