الدراسة البنيوية والضوئية والكهربائية لشرائح اكسيد القصدير المطعم بالنحاس

الموضوعات

علوم بحتة وطبيعية

روابط وملفات

التعريف والنوع

رقم الوثيقة

0db0a8e9-0a3d-461d-9631-3e147b956d1b

رقم العقد

0

نوع الوسائط

Crawler

نوع المحتوى

الرسائل العلمية

صيغة المصدر

ماستر (LMD)

نوع الملف

pdf text

أسماء الملفات

947916_1.pdf

بيانات النشر

ألقاب المؤلفين

[{"name_ar":"بن حوة عثمان","title_ar":"اشراف","title_en":"Supervision"},{"name_ar":"عبد القادر بليلة","title_ar":"اعداد","title_en":"Preparation"},{"name_ar":"نور الدين حمروني","title_ar":"اعداد","title_en":"Preparation"}]

اللغة

Arabic

المصدر والدورية

اسم المصدر

الدراسة البنيوية والضوئية والكهربائية لشرائح اكسيد القصدير المطعم بالنحاس

المحتوى والصفحات

عدد الصفحات

83

ترجمة الملخص

In this work ,we studied structural, electrical, and optical characterization of un doped tin oxide (SnO2) and cuivre (Cu) doped (SnO2) thin films , Which have been deposited from tin chloride (SnCl2) and cuivre chloride(CuCl2)onto glass substrates by spray pyrolys is technique .Samples were deposited for 4 minutes at the substrate temperature of 480 C°.The doping concentration of (Cu) was varied from 1 to 16 wt (%) in solution.X-ray diffraction (XRD) has shown polycrystalline structure according to Tetragonal , Rutile (SnO2) structure with (200) as preferential orientation for cuivre (Cu) doped (SnO2) thin films. The optical transmittance of (SnO2:Cu) films in visible region increases from 76% to 90%.The sheet resistance (Rsh) varied from )672.951Ω) to )6255.460Ω) for Cu-doping in the range 0-8 wt (%).The optical band gap (Eg) increased from (4.09.5eV)to(4.61.0eV)with increasing of the concentration of cuivre (Cu) dopants.

كلمات الباحثين

cuivre(Cu), Spray pyrolysis, Thin films, Tin oxide (SnO2), X-ray diffraction (XRD), أكسيد القصدير SnO2, إنعراج الأشعة السينية, الأغشية الرقيقة, الرش بالإنحلال الحراري, الفاصل الطاقي, المقاومة السطحية, النحاس Cu

إشراف وإعداد

الإشراف

بن حوة عثمان

الإعداد

عبد القادر بليلة, نور الدين حمروني

الاقتباسات الببليوغرافية