Dépôt du silicium en couches mines à haute temperature par pulverisation en continu assistée d'un champ magnétique
Rabah Cherfi, Oucher Mouss
كلية الفيزياء-جامعة العلوم والتكنولوجيا هواري بومدين - الجزائر · الجزائر
الموضوعات
علوم بحتة وطبيعية
الملخص
Les multiples applications du silicium en couches minces et de ses alliages, font que ces matériaux soient dans plusieurs laboratoires. Ces matériaux peuvent être élaborés par plusieurs techniques de dépôt.Nous avons utilisé la technique de "Pulvérisation en Continu Assistée d'un Champ Magnétique" d'une silicium sous plasma d'argon et d'hydrogène. Cette technique permet de découpler les sources du matériau.Ce qui n'est pas le cas pour les techniques de décomposition d'un gaz par exemple.Dans ce travail nous avons étudié les propriétés du matériau et nous avons suivi son évolution en fonction température de dépôt. Cette étude est menée alors sur des échantillons déposés dans une gamme allant de 260 °C à 660 °C et à des vitesses de dépôt comprises entre 10 ≈/sec et 15 ≈/sec.Pour étudier le matériau, nous avons mesuré la conductivité sous obscurité σobs, la photoconductivité σph; d'absorption optique α et l'indice de réfraction statique ns. Pour l'évaluation de la densité d'états , nous avons utilisé les techniques PDS et CPM. La structure du matériau a été explorée à l'aide de Raman.L'évolution de ces caractéristiques en fonction de la température de dépôt, nous a amené à zones de température. La température de 550 °C apparaît comme une frontière de séparation tendances. Plus bas que 550 °C, le matériau est amorphe. Il montre une diminution de la densité avec l'augmentation de la température de dépôt.Au-delà de 550 °C, le matériau reste amorphe, mais dans cette zone, la densité de défauts augmente de la température de dépôt. Le matériau devient polycristallin à la température de dépôt °C.Les caractéristiques du matériau déposé autour de 600 °C présente des particularités : sa relativement élevée et ce avec une densité de défauts importante. Ceci suggère un matériau amorphe structure particulière.
روابط وملفات
التعريف والنوع
- رقم الوثيقة
- 0bff09de-0ed2-4af9-84e4-1bcf2932ba5e
- رقم العقد
- 0
- نوع الوسائط
- Crawler
- نوع المحتوى
- الرسائل العلمية
- صيغة المصدر
- رسائل ماجيستير
- نوع الملف
- pdf text
- أسماء الملفات
- 1374793_1.pdf, 1374793_2.pdf
بيانات النشر
- ألقاب المؤلفين
- [{"name_ar":" Rabah Cherfi","title_ar":"اعداد","title_en":"Preparation"},{"name_ar":"Oucher Mouss","title_ar":"اشراف","title_en":"Supervision"}]
- اللغة
- French
المصدر والدورية
- اسم المصدر
- Dépôt du silicium en couches mines à haute temperature par pulverisation en continu assistée d'un champ magnétique
المحتوى والصفحات
- عدد الصفحات
- 0
- كلمات الباحثين
- Champ magnétique , couche mince , Physique des matériaux, Silicium
إشراف وإعداد
- الإشراف
- Oucher Mouss
- الإعداد
- Rabah Cherfi
الاقتباسات الببليوغرافية
APA
MLA