دراسة الخصائص الضوئیة لكاشف الأشعة تحت الحمراء المصنع بطریقة التوضع من المحالیل الكیمیائیة (C.B.D)
طارق زعروري, جلال سودة , بشیر محمد عدنان دوغان
كلية العلوم-جامعة حلب · سوريا
الموضوعات
علوم بحتة وطبيعية
الملخص
تم تحضیر أغشیة رقیقة من كبریتیدالرصاص )PbS( عند أزمنةترسیب min)15-30-45( وتیلورید الرصاص )PbTe( عند أزمنةترسیبh)24-48-72 (بتقانة الترسیب بالحمام الكیمیائي )CBD( على ركائز زجاجیة، وتمت دراسة تأثیر تغیرفترة الترسیب على بعض الخصائص البنیویة والضوئیة والكھربائیة. أكدت الدراسة البنیویة لأغشیة PbS-PbTe باستخدام تقانة انعراج الأشعة السینیة )XRD( أنھا ذات بنیة متعددة التبلور وأن النمو السائد لھذه البلورات یكون وفق المستوي)200(وأن شدة قمم الانعراج ومقاس التبلور تزداد مع زیادة فترةالترسیب بینما كثافة الانخلاعات وانفعال الشبكة تتناقص وھذا یدل على زیادة تجانس الأغشیة المتشكلة [1] .من دراسة السماكة النسبیة لھذه الأغشیة تبینّ أنھا تزداد مع زیادة زمنالترسیب وذلك عند درجة حرارة ثابتة.تم قیاس وحساب الخصائص الضوئیة التالیة لھذه الأغشیة: الامتصاصیة –النفوذیة –الانعكاسیة –معامل الامتصاص –معامل التخامد –الفجوة الطاقیة –قرینة الانكسار –ثابت العزل الكھربائي –الناقلیة الضوئیة وذلك باستخدام مطیاف الأشعة المرئیة وفوق البنفسجیة )UV/Vis Spectro Photometer( حیث أكدت النتائج أن جمیع الأغشیة المتشكلة تملك امتصاصیة عالیة عند الأطوال الموجیة الواقعة بین nm)600-500(وأن زیادة فترةالترسیب أدّت إلى زیادة نسبة الامتصاصیة )بسبب زیادة سماكة الأغشیة (مع حدوث انزیاح لقمم الامتصاص باتجاه الأطوال الموجیة الأطول وانخفاض في قیم الفجوة الطاقیة للانتقالات الالكترونیة المباشرة المسموحة وذلك بسبب زیادة حجم الحبیبات المتشكلة. ومن الدراسة الضوئیة لأغشیة PbS-PbTe باستخدام مطیاف الأشعة تحت الحمراء )FT/IR( فقد لوحظقمة امتصاص واحدة تخص المركب PbTe تقع بالقرب من الطول الموجي 3400nm ولمركب PbS قریبة من 2900nm. وتبینّ من الطیوف الناتجة أن زیادة زمن الترسیب أدّت إلى ارتفاع قمم الامتصاص بنسبة كبیرة [2]. وتمت الدراسة الكھربائیة باستخدام قیاسات التیار المستمر حیث تبیّن أن العلاقة بین شدة التیار والكمون )میزة I-V(للأغشیة PbS-PbTe ھي علاقة خطیة )ضمن مجال القیم الصغیرة للتیار (وأن العلاقة بین شدة التیار وزمن الترسیب للأغشیة علاقة شبھ خطیة مما یدل على أن سلوك ھذه الأغشیة ھو سلوك طبیعي لأنصاف النواقل، وتبین أیضاً أن زیادة زمنالترسیب تنقص من المقاومة الكھربائیة للأفلام PbS-PbTe نتیجة زیادة حاملات الشحنة وھذا ناتج عن زیادة سماكة الأفلام المتشكلة. مما سبق نستنتج أن الأفلامالمحضرة عند الازمنة )45min للمركب PbSو72h للمركب PbTe( ھي أفضل الأغشیة من حیث الخصائص البنیویة والضوئیة والكھربائیة وبالتالي فھي مناسبة لصناعة الخلایا الشمسیة وكواشف الأشعة تحت الحمراء.
روابط وملفات
التعريف والنوع
- رقم الوثيقة
- 0acc83e5-4ccf-4afc-b350-cfe961fbc599
- رقم العقد
- 0
- نوع الوسائط
- Crawler
- نوع المحتوى
- الرسائل العلمية
- صيغة المصدر
- رسائل ماجيستير
- نوع الملف
- pdf text
- أسماء الملفات
- 1961189_1.pdf
بيانات النشر
- ألقاب المؤلفين
- [{"name_ar":" طارق زعروري","title_ar":"اشراف","title_en":"Supervision"},{"name_ar":" جلال سودة ","title_ar":"اشراف","title_en":"Supervision"},{"name_ar":"بشیر محمد عدنان دوغان","title_ar":"اعداد","title_en":"Preparation"}]
- اللغة
- Arabic
المصدر والدورية
- اسم المصدر
- دراسة الخصائص الضوئیة لكاشف الأشعة تحت الحمراء المصنع بطریقة التوضع من المحالیل الكیمیائیة (C.B.D)
المحتوى والصفحات
- عدد الصفحات
- 82
- ترجمة الملخص
- Thin films were made of Lead Sulfide in times of deposition (15 –30 –45) min and PbTe in Ɵmes of deposiƟon (72 –45 –24_h with the technology of the deposition with the chemical bath (CBD) onmicroscope glass substratesand the effect of the time of deposition was studied on someoptical, structural and electric properties. The structural study of the thin films of Pbs-PbTe has ensured with the technology of XRD that it has multilayer structure and that the growth is on the level of (200) and that the intense of yaw peak and the multilayer measurement increases with the time of deposition while the intensity of and the reaction of the which indicates the increase of the formed films.Through the study of the thickness of these films show that it increases with the increase of the deposition time and that in a stable degree. The properties of the following films were calculated and measured : Absorption –Transmittance –Reflectance -Absorption Coefficient -Extinction Coefficient -Optical energy gap -Refractive Index -Dielectric Constant and Optical Conductivity of these films. The study of optical of PbTe -PbS thin films by using UV/Vis spectrophotometer confirmed that they have the highest absorbance at wavelength range of (500 –600) nm and the absorption peaks of these films drift towards longer wavelengths with increasing deposited temperature in addition to the absorption because of the increase of the thickness of the film with a dervation of the peaks of absorbance towards the longest wavelength and a decrease in the values of energy gaps of the electronic-directtransitions because of the increase of the size of the formed units. From the optical study of the films PbTe PbS using a FT/IR spectrophotometer confirmed that they have one optical absorbance peak near of the PbTe wavelength 3400 nm, and for the PbS near 2900 nm and the absorbance rate of this peak increase with increasing deposition time.The electrical results confirmed that the current intensity of PbTe-PbSthin films increases with the applied voltage at the temperature of the room timeand more increases with a high the time of deposition. From the measurement of electrical resistance R of these films at temperatures of the room shown that it is decrease with increasing temperature of the deposition. Moreover, it is more decreasing withincreasing of deposition time. The activation energy of PbS -PbTewas determined too. So the films that were deposited at longer times have better Structural, Optical and Electrical Properties, hence these films has potential application in fabrication of solar cells and infrared detectors.
إشراف وإعداد
- الإشراف
- طارق زعروري, جلال سودة
- الإعداد
- بشیر محمد عدنان دوغان
الاقتباسات الببليوغرافية
APA
MLA