Modélisation de la dégradation due aux pièges pour les composants actifs radio fréquence

Imed Eddine Haya, Oussama Mohamed Hamza Fadene , Samir Dahmani

كلية التكنولوجيا-جامعة سعد دحلب - البليدة · الجزائر

الموضوعات

علوم تطبيقية وتكنولوجية

الملخص

روابط وملفات

الوثيقة في المستودع الخارجي عرض في AskZad

التعريف والنوع

رقم الوثيقة: 04ad3419-a366-46ba-bdc9-a96854e78075
رقم العقد: 0
نوع الوسائط: Crawler
نوع المحتوى: الرسائل العلمية
صيغة المصدر: ماستر (LMD)
نوع الملف: pdf text
أسماء الملفات: 2223055_1.pdf

بيانات النشر

ألقاب المؤلفين: [{"name_ar":"Imed Eddine Haya","title_ar":"اعداد","title_en":"Preparation"},{"name_ar":"Oussama Mohamed Hamza Fadene ","title_ar":"اعداد","title_en":"Preparation"},{"name_ar":"Samir Dahmani","title_ar":"اشراف","title_en":"Supervision"}]
اللغة: French

المصدر والدورية

اسم المصدر: Modélisation de la dégradation due aux pièges pour les composants actifs radio fréquence

المحتوى والصفحات

عدد الصفحات: 0
كلمات الباحثين: Transistor HEMT, Nitrure de gallium (GaN), Nitrure d’aluminium de gallium

إشراف وإعداد

الإشراف: Samir Dahmani
الإعداد: Imed Eddine Haya, Oussama Mohamed Hamza Fadene

الاقتباسات الببليوغرافية

APA

Imed Eddine Haya،Oussama Mohamed Hamza Fadene و Samir Dahmani. (2020). Modélisation de la dégradation due aux pièges pour les composants actifs radio fréquence. أطروحة(ماستر (LMD)). كلية التكنولوجيا-جامعة سعد دحلب - البليدة. الجزائر.

MLA

Imed Eddine Haya،Oussama Mohamed Hamza Fadene و Samir Dahmani. Modélisation de la dégradation due aux pièges pour les composants actifs radio fréquence. 2020. كلية التكنولوجيا-جامعة سعد دحلب - البليدة، ماستر (LMD).