Theoretical, Simulation and Experimental Investigation of the Structural Properties of CDTE Semiconductor Using XRD

الموضوعات

علوم بحتة وطبيعية

الملخص

The objective of this work is to compute the X-raydiffraction pattern (I = f (2θ)) of The compound CdTe for wavelength of RX: λ = 1.54Å The comparison of the diagram obtained with the diagram calculated by the software "CaRIne" and those given by the "PDF" database(Powder Diffraction File) showed that:i) The calculated intensities are very close to those obtained by the software CaRIne,ii) There is a difference between the calculated intensities and those given by the base PDF. The differences between these intensities come from the neglected terms in the calculation of Thermal agitation factors and absorption factors. iii) Starting from the diagrame of the experimental X-ray diffraction of the composed CdTe we can calculate:-Calculation of grain size D -stress ε.

روابط وملفات

التعريف والنوع

رقم الوثيقة

0139ad1e-a0c3-436e-b104-46a605a45a4c

رقم العقد

0

نوع الوسائط

Crawler

نوع المحتوى

الرسائل العلمية

صيغة المصدر

ماستر (LMD)

نوع الملف

pdf text

أسماء الملفات

980439_1.pdf

بيانات النشر

ألقاب المؤلفين

[{"name_ar":"زين حمزة","title_ar":"اعداد","title_en":"Preparation"},{"name_ar":"لاربي عيسى","title_ar":"اعداد","title_en":"Preparation"},{"name_ar":"لزهر بودجر","title_ar":"اشراف","title_en":"Supervision"}]

اللغة

English

المصدر والدورية

اسم المصدر

Theoretical, Simulation and Experimental Investigation of the Structural Properties of CDTE Semiconductor Using XRD

المحتوى والصفحات

عدد الصفحات

0

ترجمة الملخص

L’objectif de ce travail est le calcul du diagrammede diffraction des rayons X (I=f(2)) du composant "CdTe"pour une longueurd’onde de RX : λ=1.54Å. La comparaison de diagramme obtenueavec les diagrammes calculés par lelogiciel "CaRIne" et ceux donnés par la base de données "PDF" (Powder Diffraction File) a montré que :i) Les intensités calculées sont très proches à celles obtenues par le logicielCaRIneii) Il y a une différence entre les intensités calculées et celles données par la base PDF. Les écarts entre ces intensités proviennent des termes négligés dans le calcul de I(facteurs d’agitation thermique et facteurs d’absorption). iii) Apartir du diagramme de diffraction des rayons Xexperimental du composant "CdTe"on peut calculler:-contrainte appliquèe -volume de la maille

إشراف وإعداد

الإشراف

لزهر بودجر

الإعداد

زين حمزة, لاربي عيسى

الاقتباسات الببليوغرافية